
该ic芯片与该散热基板的热接口材料层90%以上成分为银,孔隙率小于25%,且厚度为1~15μm。藉此,本发明具有下列功效:1.本发明使用的热接口材料将不会产生任何介金属化合物,故不会因制程(环境)温度而脆化,且在高温下(<800℃)相当稳定。2.本发明使用的热接口材料在完成热处理后含少量有机物(<1%),且99%以上为纯银,故长时间使用下将无有机挥发物(volatileorganiccompounds,voc)产生。3.本发明所使用的热接口材料为纯银,以高纯度银做异质界面接合用材料,其导热系数为锡银铜合金(无铅焊锡)的两倍以上,如表1所示。表1本发明与现有锡银铜合金焊料的比较锡银铜焊料本发明导电率(mω-cm)~(w/m-k)60>2004.本发明不含铅、镉、卤素等毒性物质。5.目前高功率模块的工作温度已上升至150℃,次世代高功率模块的工作温度将上升至200℃,则本发明所使用的热接口材料为纯银,将可取代无铅焊锡的锡银铜合金与传统焊锡的铅锡与银铅锡合金。6.本发明奈米银粒子与微米银粒子的比例为9:1~1:1,且因主要组成银粒子的尺寸为100nm以下的奈米银粒子,故所使用的热处理温度低于250℃,可避免电子组件在封装制程中受到高温而破坏。7.本发明采用全新非接触式探针点胶技术。
滑环12的底部固定连接有与传动杆10配合使用的移动框13,移动框13位于圆盘9的前侧,传动杆10的前端延伸至移动框13的内部,传动杆10的表面与移动框13的内壁接触,移动框13的底部固定连接有导向杆19,容纳槽2内壁的底部开设有导向槽20,导向杆19与导向槽20滑动连接,通过设置导向杆19和导向槽20,能够增加移动框13移动的稳定性,防止移动框13移动时倾斜,滑环12的顶部固定连接有移动板14,移动板14的顶部贯穿至底座1的外部,移动板14内侧的顶部固定连接有卡杆15,底座1的顶部设置有igbt功率模块本体16,igbt功率模块本体16底部的两侧均固定连接有橡胶垫21,橡胶垫21的底部与底座1的顶部接触,通过设置橡胶垫21,能够增加igbt功率模块本体16与底座1的摩擦力,防止igbt功率模块本体16在底座1的顶部非正常移动,igbt功率模块本体16两侧的底部均开设有卡槽17,卡杆15远离移动板14的一端延伸至卡槽17的内部,通过设置底座1、容纳槽2、一轴承3、蜗杆4、转盘5、第二轴承6、转轴7、蜗轮8、圆盘9、传动杆10、滑杆11、滑环12、移动框13、移动板14、卡杆15、igbt功率模块本体16和卡槽17的配合使用,解决了现有igbt功率模块的安装机构操作时繁琐,不方便使用者安装igbt功率模块的问题。
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